原子發(fā)射光譜法（AES）可以在地質(zhì)、生物、環(huán)保、農(nóng)業(yè)和工業(yè)等樣品的分析，為進一步進行樣品的痕量元素檢測，需要用到這種技術(shù)，就是分離富集技術(shù)，采用這種技術(shù)，可使分析檢出限、精密度和準確度得到大大提高。分離富集-AES技術(shù)可以分為以下幾類。

       1.化學光譜法

       化學光譜法是一種化學預(yù)分離富集與AES相結(jié)合的方法，是采用化學方法把待測雜質(zhì)元素轉(zhuǎn)變?yōu)樗璧幕衔镄问?，選擇相應(yīng)的方法進行預(yù)富集，然后對雜質(zhì)濃縮物進行AES測定。常用的方法有揮發(fā)法、萃取法、離子交換法和沉淀法等?；瘜W光譜法適用于廣泛領(lǐng)域的多種樣品分析。

       2.物理預(yù)分離富集光譜法

       物理預(yù)分離富集光譜法是一種將物理預(yù)分離富集與AES相結(jié)合的方法，是利用待測雜質(zhì)與基體分餾特性的差異，將其分離富集，然后進行AES測定。常用的方法有蒸發(fā)法、真空蒸餾法等。蒸發(fā)法主要用于難熔物質(zhì)中易揮發(fā)和中等揮發(fā)雜質(zhì)元素的測定；真空蒸餾法主要用于易揮發(fā)物質(zhì)中難揮發(fā)雜質(zhì)的測定。

工業(yè)檢測

       3.直接光譜分析法

       直接光譜分析法的特點是分離富集與光譜測定幾乎是同時進行，主要有載體燕餾法和電弧濃縮法。載體蒸餾法主要用于難熔物質(zhì)中易揮發(fā)和中等揮發(fā)雜質(zhì)的測定，電弧濃縮法主要用于礦物巖石中難揮發(fā)雜質(zhì)的測定。

       4.色譜-等離子體-AES聯(lián)用技術(shù)

       根據(jù)氣態(tài)或液態(tài)樣品中雜質(zhì)元素與主體成分的不同化學狀態(tài)和色譜行為，采用氣相色譜（GC）和液相色譜（LC,包括HPLC和TLC）進行預(yù)分離,然后對色譜餾出物進行AES檢測。這類方法主要有GC-等離子體光譜（PAES）聯(lián)用技術(shù)及LC（或HPLC，TLC）-PAES聯(lián)用技術(shù)。前者主要用于氣態(tài)或易氣化物質(zhì)的分析，后者則是溶液中各元素存在狀態(tài)分析的有效手段。